1. 접촉식 측정 - 고정밀 거칠기 프로파일러 일체형 기계
고정밀 거칠기 프로파일러 일체형 기계는 기계적 프로브를 접촉시켜 측정합니다. 측정된 물체의 표면. 기계식 프로브가 측정된 표면에 접촉하면 측정 시스템은 기계식 프로브의 이동 궤적과 힘 변화를 기록합니다. 표면에서 프로브의 움직임과 힘의 변화를 측정하여 표면의 지형 매개변수를 계산할 수 있습니다. 측정 원리의 핵심은 프로브와 측정 표면의 접촉 및 이동이므로 프로브의 안정성과 정확성이 보장되어야 합니다.
SJ5730
2. 비접촉 측정 - 광학 3D 표면 프로파일러
광학 3D 표면 프로파일러는 빛 간섭 원리를 사용하여 물체 표면 정보를 얻습니다. 물체의 표면 거칠기를 고정밀도로 측정할 수 있는 정밀 측정기입니다. 광학 3D 표면 프로파일로미터의 측정 정확도는 매우 높으며 정확도는 나노미터 이하 수준에 도달할 수 있습니다. 다양한 산업분야에 활용되며 신에너지, 반도체, 정밀가공, 정밀광학, 항공우주, 6C 제품, 소재, 액정 등 다양한 분야에 활용이 가능합니다. 높은 정확도, 측정 대상에 손상이 없으며 재료 요구 사항이 없으며 부드러운 재료 및 날카로운 제품도 측정할 수 있습니다.
SuperViewW1
표면 거칠기를 측정하려면 실제 측정 상황과 요구 사항에 따라 적절한 측정 장비를 선택해야 합니다.